Änderungen zwischen den Fassungen
Nachweis des günstigen Schulerfolges gemäß dem Schülerbeihilfengesetz (aufgehoben)
aufgehoben§ 0↗RIS↗
§ 1aufgehoben
§ 1.
An Schulen für den medizinisch-technischen Fachdienst sind als Einzelprüfungen im Sinne des § 5 Abs. 4 lit. b des Schülerbeihilfengesetzes die Prüfungen aus nachstehenden Unterrichtsfächern zu berücksichtigen:
1. für den Nachweis des günstigen Schulerfolges im zweiten Jahr der Ausbildung:
Anatomie und Physiologie;
Einführung in die Physik, insbesondere in die Elektrizitätslehre;
Allgemeine Pathologie;
Hygiene;
Einfache medizinisch-technische Laboratoriumsmethoden (erste Teilprüfung der Diplomprüfung);
2. für den Nachweis des günstigen Schulerfolges im dritten Jahr der Ausbildung:
Hilfeleistungen bei der Anwendung von Röntgenstrahlen zu diagnostischen und therapeutischen Zwecken (zweite Teilprüfung der Diplomprüfung).
§ 2aufgehoben
§ 2.
An Bundeshebammenlehranstalten sind für den Nachweis des günstigen Schulerfolges im zweiten Ausbildungsjahr als Einzelprüfungen im Sinne des § 5 Abs. 4 lit. b des Schülerbeihilfengesetzes die Prüfungen aus nachstehenden Unterrichtsfächern zu berücksichtigen:
Allgemeine Anatomie;
Allgemeine Physiologie und Ernährungslehre;
Allgemeine Hygiene und Infektionslehre einschließlich Entwesung, Desinfektion und Sterilisation;
Allgemeine Pathologie;
Allgemeine Krankenpflegetechnik, Instrumenten- und Gerätelehre.
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